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來源：何超|
發表時間：2017-11-13
點擊：7177
儀器型號：S-4800
測試分類：SEM SEM MAPPING SEM EDX
測試要求：樣品必須是化學上物理上穩定的干燥固體，表面清潔，在真空中及電子束轟擊下不揮發或變形，無反射和腐蝕性
尺寸和形態上無嚴格要求，X射線微區成分分析試樣必須磨平，拋光。
試樣必須導電，對于不導電試樣或鑲嵌試樣，需附有導電膠帶
測試周期：5個工作日
聯系人：何超 15195693784
